兵器材料科学与工程

2002, (01) 35-37

[打印本页] [关闭]
本期目录(Current Issue) | 过刊浏览(Past Issue) | 高级检索(Advanced Search)

快速退火工艺对钛酸铋薄膜电学性能影响的研究
Effect of RTA on electrical character of Bi_4Ti_3O_(12) thin film

苏学军,李岩

摘要(Abstract):

采用快速退火工艺处理的钛酸铋铁电薄膜 ,矫顽场Ec=9kV/cm ,在室温下剩余极化强度Pr=8μC/cm2 ;退火提高了钛酸铋薄膜的介电常数和材料的绝缘性 ,0 .1MHz附近薄膜材料的介电损耗tgδ<0 .1

关键词(KeyWords): 极化强度;C-V特性;矫顽场;快速退火;介电常数

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家自然科学基金项目

作者(Author): 苏学军,李岩

Email:

DOI:

扩展功能
本文信息
服务与反馈
本文关键词相关文章
本文作者相关文章
中国知网
分享