牛素琴,李岩,刘子瑜

• 1:兵器工业第五二研究所理化中心
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• 3:兵器工业第五二研究所理化中心 包头 014030
• 4:包头 014030

摘要(Abstract)：

直接用白铜合金片样定性扫描测定Ni、Cu和Zn的X-射线荧光强度值,作强度归一化可以半定量确定主量元素质量百分数(％),结果发现元素之间有明显的吸收—增强效应。改用溶液滤纸片薄膜制样测定,强度归一化的计算值与试样元素的推荐值十分吻合,说明元素之间的吸收—增强效应基本消除,研究的方法精确度高。

关键词(KeyWords)： 白铜;x射线荧光光谱法;吸收—增强效应;归一化;滤纸片薄膜制样

Abstract:

Keywords:

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作者(Author): 牛素琴,李岩,刘子瑜

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DOI: 10.14024/j.cnki.1004-244x.2003.04.012

参考文献(References)：

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