兵器材料科学与工程

2007, No.220(01) 21-24

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Cu-Al合金平板试样内氧化层的测定
Identification of the oxide layer of Cu-Al alloy plate produced by internal oxidation

国秀花;宋克兴;郜建新;刘瑞华;

摘要(Abstract):

以Cu2O为氧源,采用包埋法在自制真空炉胆内进行了Cu-Al合金平板试样的内氧化试验,测定了内氧化层深度和试样的电导率,建立了平板试样内氧化后Cu-Al合金层和弥散强化层共存下的电导率模型,推导出Cu-Al合金平板试样的内氧化深度X和电导率!的关系:!=41.18+0.541 333 2!3X-4X2"。结果表明,内氧化后在试样横截面上有一条明显的界线,分界线的深度测定和电导率测定结果与公式计算结果吻合得较好,证明此界线即为内氧化的前沿界面,在显微镜下可测量出内氧化层的深度。

关键词(KeyWords): Cu-Al合金;内氧化深度;电导率;内氧化前沿界面

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 河南省重点科技攻关项目(0523021500);; 洛阳市重点科技攻关项目(020902);; 河南科技大学重大预研科学研究基金资助(2005ZD003);; 河南科技大学人才科学研究基金资助

作者(Author): 国秀花;宋克兴;郜建新;刘瑞华;

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