兵器材料科学与工程

1986, (12) 6-10+71

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平面主应力的X射线测定方法

王茂林

摘要(Abstract):

用X射线法测定表面残余应力,测定平面主应力的大小和方向,由此可计算出平面应力分布,许多研究者作了不少工作,但公式繁多,不便记忆。本文导出三次测量计算主应力大小和方向的普遍适用的公式,并对主应力方向的判断进行了讨论,提出了主应力方向的简单判断方法。

关键词(KeyWords):

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基金项目(Foundation):

作者(Author): 王茂林

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DOI: 10.14024/j.cnki.1004-244x.1986.12.002

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