兵器材料科学与工程

2018, v.41;No.286(01) 110-115

[打印本页] [关闭]
本期目录(Current Issue) | 过刊浏览(Past Issue) | 高级检索(Advanced Search)

工业CT工艺参数选择对小缺陷尺寸测量的影响
Influence of industrial CT process parameter selection on small defect size measurement

付康;倪培君;齐子诚;郭智敏;唐盛明;

摘要(Abstract):

小缺陷的识别与测量是工业CT工程应用中的难点之一。工业CT工艺参数的选择是影响断层扫描图像质量的重要因素。对于小缺陷的检测来说,细节特征的识别和测量精度与切片厚度、微动次数以及触发次数等工艺参数有直接关系。以6 MeV线阵高能工业CT为例,通过理论分析和试验研究各工艺参数对小缺陷测量精度的影响,得出特定条件下的最佳工艺参数,最终给出小缺陷检测时工艺参数的选择方法,为工业CT工程应用中的缺陷检测和工艺卡的编写提供指导和借鉴。

关键词(KeyWords): 工业CT;工艺参数;小缺陷;测量精度

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家自然科学基金(61471411);; 浙江省自然科学基金(LQ15E010003);; 宁波市自然科学基金(2016A610247);; 宁波国际科技合作项目(2015D10005)

作者(Author): 付康;倪培君;齐子诚;郭智敏;唐盛明;

Email:

DOI:

参考文献(References):

扩展功能
本文信息
服务与反馈
本文关键词相关文章
本文作者相关文章
中国知网
分享